fastMES for Semiconductor
fastMES for Semiconductor是专为晶圆加工及封装的半导体企业打造的MES,可控制FAB前段与后段工艺,并将配方及特性管理细化到每一片晶圆,是一套专业的半导体解决方案。
Benefit
实时采集与分析工艺信息 / 精准追溯异常良率的原因 / 自动生成客户专属标签及检验报告 / 按客户实时追踪质量 / 自动判定测量数据的质量 / 工艺标准化 / 降低合规成本
概念图
MES位于系统的核心,是整个制造系统信息的枢纽。它从ERP系统获取生产/交货计划、产品/物料等基础信息,执行实际的生产制造活动。MES负责半导体制造工艺(存储器、非存储器、晶圆代工、LED等晶圆加工及封装)的全过程,取代传统的流程卡(Traveler Sheet)和作业单(Run Sheet)。

硬件配置图
主要特点:与SAP、Oracle等ERP系统对接,实时监控工艺状态,实时查看主要工艺参数趋势,利用条码及RFID实现数据对接,实时LOT追踪管理(LOT Traceability System,涵盖物料入库、生产、出货等)

工艺流程
半导体:芯片详细工艺流程
从晶圆入库到前段工艺、Probe特性检测、后段工艺、封装等主要工艺数据,不仅按晶圆管理,还可细化到最小单位芯片(Chip Level),并支持从芯片到晶圆、Carrier Lot的正向/反向追溯。
软件配置图
fastMES for Semiconductor提供专为半导体工艺设计的流程,不仅可以统一管理拆批、合批、Route及Recipe、参数设置等,还能实时追踪LOT。

主要画面

MES MAIN

按Carrier、晶圆、芯片追踪

Real-Time Quality Analysis

测量实绩分析

芯片良率分析

实时设备运行状况
导入效果
- 2~100%
生产信息采集
提升 - 10~100%
文件业务
减少 - 5~82%
生产周期
缩短 - 2~63%
质量
提升 - 3~60%
生产交期
缩短 - 3~50%
在制品库存
减少
提升良率与质量
- 实时工艺能力分析
- 实时追踪不良及质量信息
- 严格保存制造过程记录
- 精准追溯异常良率的原因
客户满意
- 满足客户的多样化需求
- 按客户实时追踪质量
- 根据生产计划设定客户优先级
- 自动生成客户标签及检验报告
降低信息采集与分析成本
- 工艺标准化
- 保存全部生产记录
- 自动判定测量数据的质量
- 实时质量分析与追踪
- 降低合规成本